基于LabVIEW的電容近炸引信綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的研究
2011/7/6 11:08:00
0 引言電容近炸引信的信號(hào)處理電路動(dòng)態(tài)性能參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是采用 Lab VIEW6.0開(kāi)發(fā)平臺(tái)開(kāi)發(fā)的程序、NI公司的 PCI60 2 4E數(shù)據(jù)采集卡、RDR(引信信號(hào)處理電路 )所組成的系統(tǒng)。該系統(tǒng)能模擬接近目標(biāo)的檢波信號(hào) ,通過(guò) PCI60 2 4E傳送到 RDR,同時(shí)監(jiān)測(cè)引信電路控制臺(tái)內(nèi)部的各主要電路
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